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用于可靠性试验的技术标准

点击次数:3846 发布时间:2009/4/21
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 对产品进行可靠性试验,根据试验的目的选用什么试验方法,选用什么试验条件,如何确定失效判据,如何选择抽样方式,zui后对产品进行可靠性评价的结果符合什么可靠性等级,这在现有国内、国际上制定的各种可靠性技术标准上几乎都有明确规定。这说明对于电子元器件质量和可靠性水平,在国际上已有统一的标准。对于电子元器件产品适用于民用、工业用、军用和宇航用都有相应的标准或相应的等级要求。这为我们开展可靠性试验提供了方便条件。
用于电子元器件可靠性试验的主要技术标准如表8.5所列。在表8.5所列的各种标准中,过去美军MIL标准一直在世界上占主要地位。由于现在在国际上存在着电子元器件可靠性国际认证问题,所以IEC标准正逐渐成为主流。我国这方面的标准大多数是参考MIL标准和IEC标准制定的。世界各国的电子元器件生产厂也都按照这些标准规定的方法进行。
表8.5 主要的可靠性试验方法标准
IEC标准[International Electrotechnical Commission国际电工委员会]
68号出版物:基本环境试验法
147-5号出版物:半导体器件的机械及耐气候性试验方法
MIL标准[Military Standard(美国军用标准)]
MIL-STD-202:电子、电器元器件试验方法
MIL-STD-750:分立半导体器件试验方法
MIL-STD-833:微电子器件试验方法
BS标准[British Standard(英国标准)]
BS-9300:半导体器件的试验方法
BS-9400:IC的试验方法
JIS标准[Japanese Industral Sandard(日本工业标准)]
JIS C 7021:分立半导体器件的环境试验方法和疲劳试验方法
JIS C 7022:半导体集成电路的环境试验方法和疲劳试验方法
EIAJ标准[Standard Elcctronic Industries Association of Japan(日本电子机械工业协会标准)]
SD-121:分立半导体器件的环境和疲劳性试验方法
IC-121:集成电路的环境及疲劳性试验方法
其它:NASA标准,CECC标准,防卫厅标准,汽车工业标准等  

 
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